簡(jiǎn)單概述高端路由器測(cè)試分類(lèi)及內(nèi)容
隨著我國(guó)路由行業(yè)的發(fā)展,也推動(dòng)了高端路由器的技術(shù)更新升級(jí),這里我們主要講解了高端路由器測(cè)試分類(lèi)及內(nèi)容,路由器是通過(guò)轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)包來(lái)實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)互連的設(shè)備,可以支持多種協(xié)議(例如TCP/IP,SPX/IPX,AppleTalk),可以在多個(gè)層次上轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)包(例如數(shù)據(jù)鏈路層、網(wǎng)絡(luò)層、應(yīng)用層)。
高端路由器測(cè)試需要連接兩個(gè)或多個(gè)邏輯端口,至少擁有一個(gè)物理端口。路由器根據(jù)收到的數(shù)據(jù)包中網(wǎng)絡(luò)層地址以及路由器內(nèi)部維護(hù)的路由表決定輸出端口以及下一條路由器地址或主機(jī)地址,并且重寫(xiě)鏈路層數(shù)據(jù)包頭。路由表必須動(dòng)態(tài)維護(hù)來(lái)反映當(dāng)前的網(wǎng)絡(luò)拓?fù)?。路由器通常通過(guò)與其他路由器交換路由信息來(lái)完成動(dòng)態(tài)維護(hù)路由表。
(一)高端路由器測(cè)試分類(lèi)
當(dāng)前路由器分類(lèi)方法各異。各種分類(lèi)方法有一定的關(guān)聯(lián),但是并不完全一致。通常可以按照路由器能力分類(lèi)、結(jié)構(gòu)分類(lèi)、網(wǎng)絡(luò)中位置分類(lèi)、功能分類(lèi)和性能分類(lèi)等方法。在路由器標(biāo)準(zhǔn)制定中主要按照能力分類(lèi),按能力分為高端路由器測(cè)試和低端路由器。背板交換能力大于20Gbit/s,吞吐量大于20Mbit/s的路由器稱(chēng)為高端路由器。交換能力在上述數(shù)據(jù)以下的路由器成為低端路由器。與此對(duì)應(yīng),路由器測(cè)試規(guī)范分為高端路由器測(cè)試規(guī)范和低端路由器測(cè)試規(guī)范。
(二)測(cè)試目的及內(nèi)容
通過(guò)測(cè)試路由器,可以了解到哪些路由器能提供***的性能、路由器在不同負(fù)載下的行為、模型化網(wǎng)絡(luò)使用路由器的設(shè)計(jì)參數(shù)、路由器能否處理突發(fā)流量、路由器的性能限制、路由器能否提供不同服務(wù)質(zhì)量、路由器不同體系結(jié)構(gòu)對(duì)功能和性能的影響、高端路由器測(cè)試的功能特性和性能指標(biāo)、路由器的使用是否影響網(wǎng)絡(luò)安全、路由器協(xié)議實(shí)現(xiàn)的一致性以及路由器可靠性和路由器產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)等內(nèi)容。低端路由器設(shè)備測(cè)試主要包括:常規(guī)測(cè)試,即電氣安全性測(cè)試;環(huán)境測(cè)試,包括高低溫、濕度測(cè)試和高低溫存儲(chǔ)測(cè)試;物理接口測(cè)試,測(cè)試低端路由器可能擁有接口的電氣和物理測(cè)性;協(xié)議一致性測(cè)試,測(cè)試協(xié)議實(shí)現(xiàn)的一致性;性能測(cè)試,測(cè)試路由器的主要性能;管理測(cè)試,主要高端路由器測(cè)試對(duì)無(wú)大項(xiàng)網(wǎng)管功能的支持。
高端路由器測(cè)試主要包括:接口測(cè)試,高端路由器測(cè)試可能擁有的接口測(cè)試;ATM協(xié)議測(cè)試,測(cè)試ATM協(xié)議要求;PPP協(xié)議測(cè)試,測(cè)試PPP協(xié)議的一致性;IP協(xié)議測(cè)試,測(cè)試IP協(xié)議一致性;路由協(xié)議測(cè)試,測(cè)試路由協(xié)議一致性;網(wǎng)管功能測(cè)試,驗(yàn)證測(cè)試網(wǎng)關(guān)功能;性能和QoS測(cè)試,高端路由器測(cè)試性能和QoS能力驗(yàn)證;網(wǎng)絡(luò)同步測(cè)試,測(cè)試設(shè)備同步定時(shí)能力;可靠性測(cè)試,驗(yàn)證設(shè)備可靠性;供電測(cè)試,測(cè)試整機(jī)功耗等內(nèi)容;環(huán)境測(cè)試,包括高低溫、濕度測(cè)試和高低溫存儲(chǔ)測(cè)試。
上述兩個(gè)測(cè)試規(guī)范由于起草單位以及起草時(shí)間不同,組織安排有所不同。除上述測(cè)試外,建議在測(cè)試中考慮下面所列測(cè)試項(xiàng)目。(1)功能測(cè)試:主要來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品是否具備了設(shè)計(jì)的每一項(xiàng)功能。(2)穩(wěn)定性和可靠性測(cè)試:一般采取加重負(fù)載的辦法來(lái)評(píng)估和分析設(shè)備在長(zhǎng)時(shí)間、高負(fù)載的情況下的運(yùn)行能力。(3)互操作性測(cè)試:不同的網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品之間必須能夠互操作。互操作性測(cè)試考察一個(gè)網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品是否能在一個(gè)由不同廠(chǎng)家的多種網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品互連的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中很好地工作,如驗(yàn)證路由器與Cisco產(chǎn)品的互操作,交換機(jī)與Cisco、3Com、Lucent、Intel等的互操作等。
測(cè)試方法
高端路由器測(cè)試方法通常分為本地測(cè)試法、分布測(cè)試法、遠(yuǎn)端測(cè)試法和協(xié)同測(cè)試法。由于篇幅限制,本文不介紹其他測(cè)試法的特點(diǎn)以及適用范圍,只列出高端路由器測(cè)試中最常用到的遠(yuǎn)端測(cè)試法。其中,控制觀察點(diǎn)(PCO):通常由兩個(gè)先入先出(FIFO)隊(duì)列組成,其功能類(lèi)似于一對(duì)輸入輸出端口,向隊(duì)列一端發(fā)送命令,從同一隊(duì)列的另一端接收應(yīng)答信號(hào);被測(cè)實(shí)體(IUT):Item Under Test;下測(cè)試器(LT):通過(guò)位于被測(cè)試實(shí)體下層的PCO與被測(cè)試層交互的測(cè)試系統(tǒng)稱(chēng)為下層測(cè)試系統(tǒng)。