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深度解析iPhone中項(xiàng)目單元測(cè)試

移動(dòng)開發(fā) iOS
本文介紹的是深度解析iPhone中項(xiàng)目單元測(cè)試,主要介紹了兩種測(cè)試方法,先來看內(nèi)容。

深度解析iPhone中項(xiàng)目單元測(cè)試是本文要介紹的內(nèi)容,在XcodeiPhone SDK 3.0之后,已經(jīng)內(nèi)置了單元測(cè)試的功能,開發(fā)者可以借助單元測(cè)試寫出更健壯更正確的代碼。

文章使用的SDK版本是3.2.3。 Xcode提供了兩種單元測(cè)試方式,分別是邏輯測(cè)試與應(yīng)用測(cè)試,邏輯測(cè)試用于檢驗(yàn)?zāi)切┆?dú)立無環(huán)境限制的函數(shù),正是如此,邏輯測(cè)試無需啟動(dòng)模擬器或真機(jī),直接在build階段就完成了。應(yīng)用測(cè)試用于檢測(cè)你的iPhone應(yīng)用程序,可以測(cè)試包括界面操作等各方面行為。

邏輯測(cè)試

建立邏輯測(cè)試步驟:

在iPhone項(xiàng)目里添加一個(gè)新target,并選擇iPhone OS-Cocoa Touch-Unit Test Bundle,然后命名并直接添加到哪個(gè)iPhone項(xiàng)目下。

設(shè)置單元測(cè)試的target為當(dāng)前激活的target

為了整理方便,可新建組專門放置測(cè)試文件。添加測(cè)試文件選擇添加新文件,并選擇iPhone OS-Cocoa Touch Class-Objective-C test case class,在后續(xù)的命名時(shí)特別注意要添加到單元測(cè)試的target上,且只可勾選一個(gè)。

新建完畢后,將測(cè)試文件修改為如下形式:

Objective-c代碼 

  1. // 頭文件     
  2. #import <SenTestingKit/SenTestingKit.h>     
  3. #import <UIKit/UIKit.h>     
  4.     
  5. @interface testfirst : SenTestCase      
  6. {     
  7.       
  8. }     
  9.       
  10. - (void)testFirst;     
  11. @end     
  12.       
  13. // 實(shí)現(xiàn)文件     
  14. @implementation testfirst      
  15. int get(int i)     
  16. {     
  17.     return i;     
  18. }     
  19.     
  20. - (void)testFirst     
  21. {     
  22.     STAssertTrue(get(0), @"Must Fail");     
  23. }     
  24.       
  25. @end    
  26.  
  27. // 頭文件  
  28. #import <SenTestingKit/SenTestingKit.h> 
  29. #import <UIKit/UIKit.h> 
  30.  
  31. @interface testfirst : SenTestCase   
  32. {  
  33.    
  34. }  
  35.    
  36. - (void)testFirst;  
  37. @end  
  38.    
  39. // 實(shí)現(xiàn)文件  
  40. @implementation testfirst   
  41. int get(int i)  
  42. {  
  43.     return i;  
  44. }  
  45.  
  46. - (void)testFirst  
  47. {  
  48.     STAssertTrue(get(0), @"Must Fail");  
  49. }  
  50. @end 

注意需要導(dǎo)入SenTestingKit的framework,此framework不在列表中,添加時(shí)需要指定路徑,在本機(jī)上是/Developer/Library/Frameworks/SenTestingKit.framework

邏輯測(cè)試步驟:

選擇build,如果沒有錯(cuò)誤,則編譯成功,如果有錯(cuò)誤,則Xcode編譯失敗,并指出錯(cuò)誤之處。

測(cè)試的函數(shù)簽名必須是(void)testXXX;

小結(jié):深度解析iPhone中項(xiàng)目單元測(cè)試的內(nèi)容介紹完了,希望本文對(duì)你有所幫助,更多內(nèi)容請(qǐng)參考編輯推薦。

責(zé)任編輯:zhaolei 來源: 互聯(lián)網(wǎng)
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