了解如何檢測IOS程序內(nèi)存問題
了解如何檢測IOS程序內(nèi)存問題是本文要介紹的內(nèi)容,內(nèi)容不多,以圖示的方式為友們介紹詳細(xì)內(nèi)容。我們來看詳細(xì)內(nèi)容。
ios不能像java那樣對(duì)內(nèi)存自動(dòng)釋放,只能手動(dòng)釋放內(nèi)存,在開發(fā)過程中,程序員在謹(jǐn)慎可能也會(huì)造成內(nèi)存泄露,大量的內(nèi)存泄露會(huì)影響程序的運(yùn)行。蘋果為我們提供了instrument檢測工具,可以方便快捷的檢測出程序中的內(nèi)存泄露。
使用方法,在xocde中點(diǎn)擊如下圖所示的lenks:
運(yùn)行會(huì)出現(xiàn)下面界面:
出現(xiàn)紅柱就表示有內(nèi)存泄露,我們可以點(diǎn)擊堆棧,查看到哪一行代碼泄露:
小結(jié):了解如何檢測IOS程序內(nèi)存問題的內(nèi)容介紹完了,通過本文的介紹,你是不是已經(jīng)學(xué)會(huì)了如何去檢測IOS中的程序呢。好吧。***希望本文對(duì)你有所幫助。