嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員需要一種方法來生成一些測(cè)試場(chǎng)景，以便驗(yàn)證一個(gè)設(shè)計(jì)原型或者首次樣品。但是，生成這些場(chǎng)景的成本應(yīng)該保持到最小。同樣的要求也適用于創(chuàng)建經(jīng)濟(jì)高效的開發(fā)環(huán)境，以便使用很小的內(nèi)存 “足跡” 執(zhí)行專業(yè)的固件生成。